本网讯 近期，我院钟国麟教授受邀在IEEE天线技术国际研讨会（iWAT2024）上作报告。在报告中，他分享了我院科研团队近期的研究成果，揭示了智能反射面的相位灵敏度对入射角度与反射角度的相互重要性，特别是对大角度斜射的敏感程度，从而改进了智能反射面的单元设计和单元间去耦合方案。这些成果对于未来6G通信和智能表面技术的发展具有重要的参考和启示。
报告现场
据悉，iWAT系列会议一直专注于前沿小型天线及相关电磁波技术，通过邀请国际知名科研人员进行学术报告和展示，促进了与会代表之间的交流与互动，推动了相关领域的研究和发展。